Ingénieur en caractérisation – Microscopie électroniqueRessources naturelles Canada
- Le secteur des technologies de l’énergie
- CanmetMATÉRIAUX-HamiltonDate limite :le 7 novembre 2026
- 23h59, heure du pacifiqueNuméro du processus de sélection2026-RSN-EA-ETS-685437 Qui est admissiblePersonnes résidant au Canada ainsi que les citoyens canadiens et résidents permanents à l'étranger. TâchesEn collaboration avec les scientifiques et les équipes de projet du CMAT, vous fournirez un soutien pratique, tant sur le plan technique qu’en laboratoire, pour la caractérisation des matériaux à l’aide de la microscopie électronique et de techniques connexes. Vous contribuerez également à l’entretien de la salle de microscopie électronique en planifiant et en assurant le suivi des travaux d’entretien préventif. Le titulaire de ce poste appuie plusieurs programmes de recherche en garantissant une acquisition de données de haute qualité, la préparation des échantillons et l’efficacité opérationnelle des installations de microscopie. Préparer des échantillons pour l’analyse par SEM et TEM à l’aide de techniques standard et avancées, y compris le FIB. Analyser et consigner les données microstructurales, et contribuer à la rédaction des rapports. Participer à l’élaboration de méthodes et à la mise en œuvre de nouvelles techniques. Renseignements détaillés sur les tâches, les projets ou les réalisations qui montrent comment l’expérience a été acquise.
OR 2 : Consentir à faire des heures supplémentaires au besoin, et être en mesure de le faire. ÉtudesUn grade d’un établissement d’enseignement postsecondaire reconnu en génie mécanique, génie civil, génie électrique, génie aéronautique, génie géologique, architecture navale ou dans un autre domaine du génie lié aux fonctions du poste. ExpérienceE1 : Expérience en matière de soutien technique ou en laboratoire, dans le domaine de la caractérisation des matériaux.




E2 : Expérience pratique de la caractérisation microstructurale à l’aide de la microscopie électronique (SEM ou TEM).
E3 : Expérience en préparation d’échantillons pour la microscopie électronique à l’aide de la métallographie, de l’électropolissage ou de fraisage ionique, ainsi que de techniques de faisceau ionique focalisé (FIB).
E4 : Expérience de l’utilisation d’instruments d’analyse (p. SEM, LOM, diffraction des rayons X ou autres outils connexes) et de la collecte de données.
E5 : Expérience en caractérisation de matériaux métalliques, céramiques ou composites, dans le cadre de projets de recherche industrielle ou appliquée.
E6 : Expérience de travail dans un environnement collaboratif, en soutien à plusieurs projets ou auprès de plusieurs clients. K2 : Principes de la microscopie électronique à balayage (SEM), y compris les techniques d’imagerie et d’analyse. K4 : Connaissance des techniques d’analyse microstructurale (p. A1 : Capacité d'assurer le fonctionnement et l’entretien des instruments de microscopie électronique (SEM/TEM) et des outils d'analyse connexes. A2 : Capacité d'appuyer les travaux expérimentaux, notamment leur planification, leur exécution et leur documentation. A3 : Capacité de communiquer clairement des renseignements techniques, tant par écrit qu’à l’oral. Qualités personnelles PS2 : Souci du détail et engagement envers la qualité. AQ2 : Expérience dans l’utilisation de techniques avancées de SEM (p. AQ3 : Expérience de l’utilisation des techniques de TEM (p. AQ5 : Expérience de travail auprès de clients du secteur industriel ou pour des projets de recherche appliquée. La fonction publique du Canada s'est engagée à se doter d'un effectif compétent qui reflète la diversité de la population qu'elle dessert. La préférence sera accordée aux anciens combattants d’abord, suivis des citoyens canadiens et des résidents permanents, à l’exception des postes situés au Nunavut ou au Yukon.

📌 Ingénieur électronique laboratoire F/H (Canada)
🏢 Employment and Social Development Canada
📍 Canada